礦石分析儀
觀看視頻
下載
技術(shù)參數(shù)
| 能量分辨率 分析精度RSD 最低檢出限 測(cè)定范圍 元素含量分析范圍 分析時(shí)間 | 100±5eV ≤0.05% Na≤0.1%；Mg、Al、Si≤0.05%；P、S、Cl、K、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe≤0.001% 9F~92U 1ppm—99.99% 30-200秒（時(shí)間可選） |
| 光路結(jié)構(gòu) 樣品旋轉(zhuǎn)臺(tái) X射線管 1次濾光片 真空系統(tǒng) 自動(dòng)進(jìn)樣器 圓柱腔體 冷卻方式 制冷方式 類型 | 適合粉末樣品檢測(cè)的上照式結(jié)構(gòu) 電壓：24V，電流：1.5A，旋轉(zhuǎn)速度：4r/s Ag靶 5種（含OPEN為6種）自動(dòng)切換 功率550W，抽氣時(shí)間：10秒，抽氣速率：4升/秒，真空度：10-2pa，內(nèi)置停泵防返油裝置 350mm(D)×300mm(W)×500mm(H)，行程150mm 170×39mm 風(fēng)冷（附風(fēng)扇） 電子制冷（無需液氮） 硅漂移檢測(cè)器（FAST-SDD） |
| 測(cè)試環(huán)境 溫度 相對(duì)濕度 電源 | 大氣、真空 10~30℃（溫度變化2℃hr以內(nèi)、溫度變化幅度在10℃以下） 35%-70%（但不得有結(jié)露） 輸入電壓：電壓 AC220V±10V，頻率：50Hz±5Hz |
| 分析原理 分析方法 測(cè)試對(duì)象 照射面積 | X射線熒光分析法 能量色散型 固體·液體·粉末 1、3、5、10mmΦ：4種自動(dòng)切換 |
| 主機(jī)尺寸 主機(jī)重量 | 700(W)×650(D)×800(H)mm 約85kg |
性能參數(shù)
硬件結(jié)構(gòu)
環(huán)境與操作條件
分析測(cè)試
尺寸與重量儀器特點(diǎn)
| ||
獨(dú)特的上照射式光路結(jié)構(gòu)，測(cè)量粉末樣品具有光路短、激發(fā)效率高、不污染探測(cè)器、維護(hù)方便、測(cè)量精度高、穩(wěn)定性能好 等優(yōu)點(diǎn)； | ||
| ||
采用美國(guó)Amptek公司最高性能的硅漂移探測(cè)器，結(jié)合自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的數(shù)字多道專利分析技術(shù)，儀器的分辨率優(yōu)于100ev (Mnkα），對(duì)Na、Mg、Al等輕元素分辨率優(yōu)于60ev，是目前同類型儀器分辨率最高的，從而有效的提高了元素特別Na、 Mg、Al等輕元素的檢出限，比其他品牌同類儀器高出一個(gè)數(shù)量級(jí)，成為我們獨(dú)特的分析優(yōu)勢(shì)之一; | ||
| ||
| 自動(dòng)進(jìn)樣，定位準(zhǔn)確，進(jìn)樣空間大，粉末積灰易吸塵處理，維護(hù)方便； | ||
| ||
| 樣品可以旋轉(zhuǎn)測(cè)量，360度無死角測(cè)量，可以最大程度減弱樣品表面不均勻帶來的測(cè)量偏差，測(cè)量結(jié)果更準(zhǔn)確； | ||
| ||
真空系統(tǒng)特殊設(shè)計(jì)，最大限度的提高了輕元素的靈敏度和穩(wěn)定性。采用有專門控制單位的真空系統(tǒng)，消除了空氣對(duì)低能X 射線的阻擋，30分鐘不漏氣，內(nèi)置停泵防返油裝置，充氣時(shí)不返油到檢測(cè)單元，大大提高了Na、Mg、Al、Si輕元素的檢 測(cè)靈敏度； | ||
 工作曲線漂移校準(zhǔn) | ||
采用自動(dòng)尋峰、S標(biāo)樣測(cè)量等方式，通過校準(zhǔn)S標(biāo)樣達(dá)到校準(zhǔn)工作曲線的目的，確保了儀器短期穩(wěn)定性和長(zhǎng)期穩(wěn)定性，一般 一年標(biāo)定一次，無需頻繁標(biāo)定。 |
儀器光路結(jié)構(gòu)
